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      痕量檢測我們可以用哪種分析儀器

      發布時間:2022-09-02 09:13:04         點擊:204

             對于痕量檢測,你了解多少?痕量檢測(trace analysis),是一種對樣品中待測組分含量低于百萬分之一的分析方法。適合進行痕量檢測的儀器都有哪些?

             目前,用于痕量物質檢測的儀器主要有原子吸收分析儀(AAS)、石墨爐原子吸收分析儀(GF-AAS)、電感耦合高頻等離子體發射光譜儀(ICP-AES)、電感耦合高頻等離子質譜儀( ICP-MS)、波長色散(WDXRF)和能量色散(EDXRF)X射線熒光光譜分析儀??勺龊哿繖z測的以上幾種儀器,在分析痕量物質時也有各自的優勢,一般單位會根據自己需求進行選擇。

             AAS分析儀使用成本低,對專業技術要求低,光譜干擾少。但人工調試項目多,當基體成分復雜時,測試精度低。GF-AAS分析儀常規工作可無人自動操作,光譜干擾少,基體干擾多,樣品需能完全氣化。ICP-AES分析能力強,溶液分析精度高,基體干擾少,可測元素多,但該儀器只能檢測溶液。ICP-MS儀測試精度高,分析能力較前者更強,能進行同位素分析,樣品也需制成溶液。ICP儀都能進行半定量分析,但當測試高濃度物質時需稀釋溶液,再折算到原樣品濃度的含量,ICP的測試誤差被同時放大,這大大降低了測試精度。但對于工廠的大規模生產而言,以上這些儀器因為制樣周期長,并不適合。

      X熒光光譜儀與ICP光譜儀

      X熒光光譜儀與ICP光譜儀

             WDXRF 和EDXRF儀測試精度較ICP低一些,分析能力較ICP強一些,但它可直接對塊狀、液體、粉末樣品進行測試,亦可對小區域進行分析,還可分析鍍層和薄膜,樣品制備簡單,分析時間短,分析精度能滿足工廠生產的需要,很合適工廠大規模生產。它的弱點是存在光譜干擾,特別是樣品中同時存在光譜干擾的幾個元素時,XRF就很難辯別這幾個元素。

             痕量檢測作為地球化學、材料科學、生物醫學、環境科學、表面科學以及罪證分析等領域重要的檢測方法,根據自身實際需求,選擇合適的檢測儀器。
       

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